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ATE測試的領域

來源: 時間:2019-03-28 16:01:23 瀏覽次數:

ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,根據客戶的測試要求、圖紙及參考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發平臺,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術開發、設計各類自動化測試設備。
ATE是Automatic Test Equipment的縮(suo)寫,根據(ju)客(ke)戶的測(ce)(ce)試(shi)要求、圖紙及參(can)考方案,采用(yong)MCU、PLC、PC基(ji)于(yu)VB、VC開發平臺,利用(yong)TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技(ji)術開發、設計各(ge)類自動化測(ce)(ce)試(shi)設備。

一、ATE測試(shi)

    由DMM,程控電源,DAQ Card, 單片機,繼電器,PLC,氣(qi)缸,Fixture等組(zu)成(cheng)的電信號自動采(cai)集系統,廣泛(fan)運用于ICT,FCT等測試設備。軟(ruan)件部分(fen)采(cai)用NI LABView編寫,全自動依(yi)次采(cai)集并(bing)判定PASS/FAIL,自動生成(cheng)測試報表并(bing)上傳數據庫.

二、ATE測試-手(shou)機測試

手機硬件級結(jie)構性能(neng)測(ce)(ce)試(shi) ,采(cai)用LabVIEW圖(tu)形(xing)化(hua)編程(cheng)語(yu)言(yan)和TestStand測(ce)(ce)試(shi)管理軟件開發平臺對手機進行按(an)(an)鍵(jian)(jian)老化(hua)測(ce)(ce)試(shi)、按(an)(an)鍵(jian)(jian)靈敏度(du)測(ce)(ce)試(shi)、開短路測(ce)(ce)試(shi)、LCD背光(guang)及按(an)(an)鍵(jian)(jian)背光(guang)測(ce)(ce)試(shi)、RF測(ce)(ce)試(shi)、電(dian)流電(dian)壓測(ce)(ce)試(shi)、翻(fan)蓋測(ce)(ce)試(shi)、扭矩測(ce)(ce)試(shi)等。

三、ATE測(ce)試(shi)-汽車(che)電子測(ce)試(shi)
隨著半(ban)導體及(ji)軟件技術的快(kuai)速發(fa)展(zhan),汽(qi)車(che)(che)電子在汽(qi)車(che)(che)產業(ye)中所(suo)占(zhan)比例(li)越(yue)來越(yue)大(da)。從汽(qi)車(che)(che)的舒(shu)適性(xing)到穩(wen)定性(xing)乃(nai)至(zhi)安(an)全性(xing)的實現中,汽(qi)車(che)(che)電子產品都擔任(ren)著至(zhi)關重要的角色,并且正發(fa)揮(hui)著越(yue)來越(yue)廣泛的作用。 
  采(cai)用LabVIEW圖(tu)形化編程語言和TestStand測(ce)試管理軟(ruan)件開發(fa)或基(ji)于MCU、PLC平臺對汽車藍牙、胎壓(ya)、防盜安全控(kong)(kong)制、無線鑰匙、倒(dao)車影像系統、倒(dao)車雷達(da)、燈光控(kong)(kong)制等進行測(ce)試,能有(you)效提高(gao)產品質(zhi)量、加快生(sheng)產周期(qi)、降低生(sheng)產成(cheng)本(ben)等。
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